Microscopía Óptica y Electrónica

Soluciones en Microscopía Óptica y Electrónica


Preparación de Muestras para microscopía electrónica


PECS II

Sistema de pulido iónico mediante argón para la preparacón de muestras SEM.

  • Sistema de pulido iónico mediante argón para la preparación de muestras SEM para aplicaciones exigentes. EBSD, secciones transversales, materiales oxidables.
  • Permite el pulido y el posterior recubrimiento en un único sistema.
  • Muestras de hasta 32mm de diámetro.
  • Posibilidad de trasferencia de muestras al SEM/FIB sin exponerlas a condiciones ambientales
     

Recubrimiento de Carbono

Sistemas de recubrimiento de carbono para aplicaciones analíticas.

Sistemas de recubrimiento de carbono para aplicaciones analíticas como el EDX en microscopia SEM convencional o emisión de campo.

Sputtering de Oro

Sistemas de sputtering de oro para muestras no conductoras.

Sistemas de sputtering de oro para muestras no conductoras, disponible para microscopios termoiónicos o emisión de campo.
 

Contacto


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T. 900 810 061

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