Microscopía Óptica y Electrónica

Soluciones en Microscopía Óptica y Electrónica


Preparación de Muestras para microscopía electrónica


PECS II

PECS II

Sistema de pulido iónico mediante argón para la preparacón de muestras SEM.

Recubrimiento de Carbono

Recubrimiento de Carbono

Sistemas de recubrimiento de carbono para aplicaciones analíticas.

Sputtering de Oro

Sputtering de Oro

Sistemas de sputtering de oro para muestras no conductoras.

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