Microscopía Óptica y Electrónica
Microscopía Electrónica SEM
Dentro de la microscopía electrónica de barrido, ofrecemos con nuestros equipos gran capacidad de resolución que permiten un variado rango de informaciones procedentes de la superficie de la muestra.
JSM-7610F Plus
Microscopio de Jeol que combina un detector semi-en la lente con filtro de energía de electrones integrado (filtro r) y una cañón FE in-lens
JSM-IT800
El SEM de emisión de campo de ultra alta resolución JEOL IT800 es un FE-SEM revolucionario con la tecnología analítica de alta resolución más avanzada disponible en la actualidad.
Neoscope JCM-6000
JSM-IT200
La serie JSM-IT200 InTouchScope SEM son microscopios electrónicos de barrido compactos y versátiles que ofrecen un gran valor con la funcionalidad que solo esperaría de los SEM de gama alta
El continuo desarrollo e inversión para estar cerca de nuestros clientes nos permite disponer de una amplia cobertura geográfica con sedes en las principales ciudades de España y Portugal, y soporte comercial y técnico en todas las comunidades que nos sitúa SIEMPRE CERCA DE USTED.
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