Producto
JEM-ARM300F2
Microscopio electrónico JEM-ARM300F2 GRAND ARM ™ 2 de Jeol
El JEM-ARM300F2 GRAND ARM ™ 2 combina varias características nuevas con la tecnología probada inherente a la familia de instrumentos ARM que hacen del GRAND ARM2 la opción preferida para todas las necesidades de microscopía electrónica con corrección de aberraciones:
- Un nuevo diseño de pieza polar acepta detectores EDS duales de gran área, lo que permite la caracterización química de alta velocidad y alta sensibilidad sin sacrificar la resolución espacial.
- Características estándar, como un cañón frío, un detector HAADF híbrido para aumentar la S/N en todo el rango operativo de 40-300kV y un contraste de elementos de luz mejorado a través de imágenes e-ABF.
- Sin compromiso en la resolución espacial
Qué puedo hacer por ti
El continuo desarrollo e inversión para estar cerca de nuestros clientes nos permite disponer de una amplia cobertura geográfica con sedes en las principales ciudades de España y Portugal, y soporte comercial y técnico en todas las comunidades que nos sitúa SIEMPRE CERCA DE USTED.
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