JEM-ARM300F2

O JEM-ARM300F2 GRAND ARM ™ 2 combina várias caraterísticas novas com a tecnologia comprovada inerente à família do GRAND ARM2, a opção preferida para todas as necessidades da microscopia eletrónica com correção de aberrações:

• Um novo desenho de peça polar aceita detetores EDS duais de grande área, o que permite a caraterização química de alta velocidade e alta sensibilidade sem sacrificar a resolução espacial.
• Caraterísticas de série, como um canhão frio, un detetor HAADF híbrido para aumentar a S/N em todo o intervalo operativo de 40-300kV e um contraste de elementos de luz melhorado através de imagens e-ABF.
• Sem compromisso na resolução espacial