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Indústria eletrónica


Os múltiplos campos de aplicação da tecnologia eletrónica e a importância dos mesmos, exige que a instrumentação relacionada com esta área de engenharia necessite de elevados padrões de qualidade e segurança.

Controlo de qualidade industrial | Izasa Scientific

Análise de falhas

JSM-7610F

Microscópio eletrónico de varrimento emissão de campo tipo schottky com lente objetiva cónica de baixa aberração semi "in lens".

Com o JSM-7610F, pode-se observar facilmente imagens de alta resolução, inclusive novos utilizadores, graças ao seu canhão Schottky de emissão de campo (T-FEG) e a nova interface do utilizador. Em particular, o sistema ótico equipado com um canhão FEG tipo schotkky pode produzir um feixe de eletrões altamente focado inclusive com uma corrente de alta iluminação.

No modo de observação de baixa tensão convencional (modo GB), podem-se observar isolantes como a cerâmica e amostras tanto não condutoras como semicondutoras. Com o detetor opcional de eletrões de retrodifusão de baixo ângulo, pode-se observar a informação nas proximidades da superfície sem carga.

O microscópio inclui como standard um detetor em coluna e um filtro de energia que permite selecionar o tipo de sinal para realizar imagem com este detetor. Além disso, o microscópio tem uma nova caraterística que permite, simultaneamente, a observação em tempo real de imagens até quatro detetores. Como resultado, sempre é possível encontrar facilmente o sinal de imagem que se adapte às suas necessidades. 

 

  • Muito resistente às vibrações do solo e ao ruído acústico, sendo muito adequado para instalações em lugares comprometidos por estas circunstâncias
  • A sua nova interface de utilizador foi desenhada para facilitar o seu manuseamento aos utilizadores sem experiência em FE-SEM
  • Modo económico (programação de estado inativo) que permite economizar entre 25% e 55% de energia
  • Alta qualidade de imagem
  • Resolução 1.0 nm a 15 kV; 1.3nm a 1kV
  • Corrente de soda 200nm a 15 kV
  • Sistema de desaceleração do feixe
  • Detetor em coluna com filtro de energia
  • Instrumento superior para os campos da nanotecnologia, ciência de materiais e biologia

 

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Imina_IzasaScientific

Nanoprobing para SEM

Robots micromanipuladores para a caraterização de amostras.

Permitem realizar medições elétricas em nanoescala e micromanipulação com uma elevada precisão. Permitem o trabalho em vácuo,por exemplo no interior de um SEM, ou em condições ambientais e a transferência da plataforma de um microscópio eletrónico a um óptico.

São compactos, portáteis e de fácil manuseamento.

Aplicações

  • Caraterização in situ de materiais
  • Micro/nano handling
  • Medidas eléctricas
  • Preparação de amostras SEM/TEM
  • Teste MENS/NEMS
  • Captação local de luz
  • Dispensador de líquidos

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