Microscopia Eletrónica SEM


A incrível capacidade de resolução da Microscopia Eletrónica de Varrimento oferece uma grande gama de informação a partir da superfície da amostras. De grande utilidade em estudos forenses, biodeterioração de obras de arte, irregularidades de peças, texturas de minerais, identificação de substâncias e muito mais...

Izasa Scientific oferece soluções completas para Microscopia Eletrónica.
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Emissão de Campo

JSM-7610F

Microscópio eletrónico de varrimento emissão de campo tipo schottky com lente objetiva cónica de baixa aberração semi "in lens".

Com o JSM-7610F, pode-se observar facilmente imagens de alta resolução, inclusive novos utilizadores, graças ao seu canhão Schottky de emissão de campo (T-FEG) e a nova interface do utilizador. Em particular, o sistema ótico equipado com um canhão FEG tipo schotkky pode produzir um feixe de eletrões altamente focado inclusive com uma corrente de alta iluminação.

No modo de observação de baixa tensão convencional (modo GB), podem-se observar isolantes como a cerâmica e amostras tanto não condutoras como semicondutoras. Com o detetor opcional de eletrões de retrodifusão de baixo ângulo, pode-se observar a informação nas proximidades da superfície sem carga.

O microscópio inclui como standard um detetor em coluna e um filtro de energia que permite selecionar o tipo de sinal para realizar imagem com este detetor. Além disso, o microscópio tem uma nova caraterística que permite, simultaneamente, a observação em tempo real de imagens até quatro detetores. Como resultado, sempre é possível encontrar facilmente o sinal de imagem que se adapte às suas necessidades. 

 

  • Muito resistente às vibrações do solo e ao ruído acústico, sendo muito adequado para instalações em lugares comprometidos por estas circunstâncias
  • A sua nova interface de utilizador foi desenhada para facilitar o seu manuseamento aos utilizadores sem experiência em FE-SEM
  • Modo económico (programação de estado inativo) que permite economizar entre 25% e 55% de energia
  • Alta qualidade de imagem
  • Resolução 1.0 nm a 15 kV; 1.3nm a 1kV
  • Corrente de soda 200nm a 15 kV
  • Sistema de desaceleração do feixe
  • Detetor em coluna com filtro de energia
  • Instrumento superior para os campos da nanotecnologia, ciência de materiais e biologia

 

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JSM-7200 F

O primeiro microscópio eletrónico de varrimento de emissão de campo versátil e compacto.


Microscópio eletrónico devarrimento de emissão de campo fácil de usar, altamente versátil e com uma ótica de alta potência. 
Permite a observação e a análise a baixa kilovoltagem de aceleração, recolha de imagens a alta resolução de imagens a alta resolução e a obervação simultânea de diferentes sinais (Sistema TTLS). O modo de baixo vácuo permite a observação até 300Pa (sistema LV) e a observação e análise com um amplo campo de visão (sistema LDF), pode satisfazer as necessidades individuais de cada utilizador.
Ideal para aplicações analíticas graças ao facto de que é capaz de chegar a 300nA de corrente de sonda.
A nova lente híbrida não introduz campos magnéticos na zona da amostra, convertendo-o no equipamento ideal para a formação de imagens de alta resolução de materiais magnéticos e análise EBSD. 
Este é um sistema de SEM que permite realizar uma grande variedade de análises e observações morfológicas para todo o tipo de materiais. A opção TTLS (detetores em coluna) pode-se instalar para obter ainda mais informação. Permite obter imagens de caraterísticas superficiais de uma amostra a baixas energias de aceleração, no intervalo de menos de 1 eV.

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JSM-7800F

Microscópio eletrónico de varrimento com emissão de campo de ultra-alta resolução.

Equipado com um canhão de eletrões cónico de alto brilho e uma lente objetiva de baixa aberração.

Este modelo oferece a mais alta resolução com a menor voltagem de todos os SEM do mercado, alcançando uma resolução de 0.8 nm a 15 kV e 1.2 a 1kV. A melhoria da estabilidade global do modelo JSM-7800F permite observar 4 sinais ao mesmo tempo com uma grande capacidade analítica.

A super lente híbrida (SHL) recentemente desenvolvida, utiliza-se para conseguir a mais alta resolução em SEM. A adoção do tipo de canhão de eletrões Schottky oferece análises estáveis com uma alta corrente da sonda. A redução das aberrações cromáticas e esféricas melhora a resolução, especialmente a baixas tensões de aceleração. A lente não introduz campos magnéticos na zona da amostra, convertendo-o no equipamento ideal para a formação de imagens de alta resolução de materiais magnéticos e análises EBSD

Alta resolução em imagem superficial usando o modo Gentle Beam
Através da aplicação de uma voltagem de polarização à amostra (ES), a velocidade dos eletrões incidentes reduz-se e a velocidade dos eletrões libertados incrementa-se. Isto permite obter as imagens de alta resolução com uma boa relação sinal-ruído inclusive com energias muito baixas.
Aquisição de toda a informação com quatro detetores
O JSM-7800F incorpora 4 tipos de detetores, incluindo um detetor de eletrões superior (UED), detetor de eletrões secundários superior (USD), detetor de eletrões retrodifundidos e um detetor de eletrões inferior. Para os detetores em coluna é possível controlar os sinais de eletrões secundários/retrodifundidos através do filtro de energia. Os detetores na câmara permitem uma imagem com maior influência da topografia tendo um aspeto de 3 dimensões, incluindo a informação de rugosidade e da superfície.

Este microscópio de varrimento FEG, com as suas elevadíssimas capacidades de obtenção de imagem, é um instrumento superior para os campos da nanotecnologia, ciência de materiais e biologia.

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JSM-7800F Prime

Microscópio eletrónico de varrimento com emissão de campo de ultra-alta resolução.

Equipado com um canhão de eletrões cónico de alto brilho e uma lente objetiva de baixa aberração.

Este modelo oferece a mais alta resolução com a menor voltagem de todos os SEM do mercado, alcançando uma resolução de 0.7nm a 1kV a 15kV. A melhoria da estabilidade global do modelo JSM-7800F Prime permite observar 4 sinais ao mesmo tempo com uma grande capacidade analítica, alcançando  500nA de corrente de sonda, o que torna este modelo ideal para os utilizadores mais exigentes. 

A super lente híbrida (SHL) recentemente desenvolvida, utiliza-se para conseguir a mais alta resolução em SEM. A adoção do tipo de canhão de eletrões Schottky oferece análises estáveis com uma alta corrente da sonda. A redução das aberrações cromáticas e esféricas melhora a resolução, especialmente a baixas tensões de aceleração. A lente não introduz campos magnéticos na zona da amostra, convertendo-o no equipamento ideal para a formação de imagens de alta resolução de materiais magnéticos e análises EBSD. Este microscópio tem a opção de trabalhar em baixo vácuo (LV) permitindo o trabalho com amostrass biológicas ou amostras não condutoras sem tratamento até uma pressão de 300 Pa na câmara. 

Alta resolução em imagem superficial usando o modo Gentle Beam.
Através da aplicação de uma voltagem de polarização à amostra (ES), a velocidade dos eletrões incidentes reduz-se e a velocidade dos eletrões libertados incrementa-se. Isto permite obter as imagens de alta resolução com uma boa relação sinal-ruído inclusive com energias muito baixas.
Aquisição de toda a informação com quatro detetores.
O JSM-7800F Prime incorpora 4 tipos de detetores, incluindo um detetor de eletrões superior (UED), detetor de eletrões secundários superior (USD), detetor de eletrões retrodifundidos e um detetor de eletrões inferior. Para os detetores em coluna é possível controlar os sinais de eletrões secundários/retrodifundidos através do filtro de energia. Os detetores na câmara permitem uma imagem com maior influência da topografia tendo um aspeto de 3 dimensões, incluindo a informação de rugosidade e da superfície.

Este microscópio de varrimento FEG, com as suas elevadíssimas capacidades de obtenção de imagem, é um instrumento superior para os campos da nanotecnologia, ciência de materiais e biologia.

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